Кварц часть 61

1, в которой последовательно включенные элементы R1, L1 и C1 представляют эквивалент пьезоэлектрического эффекта, а C0 представляет шунтирующую ёмкость электродов держателя кварца. Индуктивность L1 зависит от массы кварца, ёмкость C1 зависит от упругости кварца. Сопротивление R1 характеризует потери в самом кристалле и в конструкции. Параметры эквивалентной схемы могут быть измерены с точностью порядка 1%. График зависимости реактивного сопротивления эквивалентной схемы от частоты показан на Рис. 2. Имеется несколько взаимосвязанных формул для расчёта характеристик кристалла. Первой из характеристик кварца является частота fs. Это частота, на которой происходит последовательный резонанс, она находится по формуле: где fs выражена в герцах, L1 в генри и C1 в фарадах Калибровочный допуск Калибровочный допуск – это максимально допустимое отклонение частоты кристалла при заданной опорной температуре (обычно 25°C). Стабильность частоты Характеристики кристалла могут быть нестабильными по нескольким причинам. Чаще всего такими причинами являются изменения температуры и физические изменения массы за длительный период, называемые старением. Для минимизации влияния изменений температуры пластина кварца вырезается из кристалла определенным образом, а для обеспечения предельно возможных требований к стабильности в цепь кристалла включается температурно-зависимый реактивный элемент, либо поддерживают температуру кристалла постоянной с помощью миниатюрного нагревателя (термостата). В настоящее время наиболее широко используются кристаллы со срезом типа AT потому, что их семейство температурно-частотных кривых обеспечивает возможность быстрого подбора хороших характеристик для наиболее часто используемых приложений, обеспечивая низкую стоимость резонаторов. На Рис. 3 показано типичное семейство температурно-частотных кривых для кристалла с AT-срезом. Эти кривые могут быть аппроксимированы кубической кривой и они строго зависят от угла среза заготовки кварца