разное часть 12

Колебания высокой частоты от кварцевого генератора подаются на испытуемый кварцевый резонатор. Настройка кварцевого генератора на собственную частоту испытуемого кварцевого резонатора проверяется при последовательном резонансе по минимальному показанию лампового вольтметра, включенного в схему генератора в качестве индикатора. Эквивалентные параметры и добротность резонаторов можно измерять также методом затухания свободных колебаний в специальном приборе. Измерение больших эквивалентных сопротивлений Як производится методом замещения в схеме, представленной на рис. 7Л,а, где ЛТ - кварцевый генератор, настроенный на частоту измеряемого кварцевого резонатора, Я - магазин сопротивлений, ПР~ измеряемый кварцевый резонатор, П - переключатель, г - сопротивление 100 Ом. По другой схеме (рис. 7.1,6) измеряются малые эквивалентные сопротивления Як- Здесь г - сопротивление 25 Ом. Рис. 7.1. Схемы для измерения больших (а) и малых (б) Для измерения Як кварцевого резонатора в схеме на рис. 7.1,а переключатель П ставится в положение а. Отмечается показание стрелки индикаторного прибора при последовательном соединении кварцевого резонатора и постоянно включенного сопротивления г. Далее переключатель П ставится в положение б, при этом вместо кварцевого резонатора подключаются магазин сопротивлений Я и сопротивление г. Подбором сопротивлений добиваются такого же показания индикаторного прибора, как при подключенном кварцевом резонаторе. В этом случае эквивалентное сопротивле-202 ние Як равно значению подобранного на магазине сопротивления Я При измерениях в схеме на рис. 7.1,6 следует, переключая П, измерить Vi и U2. Эквивалентное сопротивление кварцевого резонатора Як определяется по формуле Измерения эквивалентной индуктивности Lk и емкости Ск производятся в схеме последовательного резонанса. Измеряемая частота задается ГСС или любым кварцевым генератором с эталонным кварцевым резонатором, с подстройкой в необходимых пределах. Последовательно с кварцевым резонатором подключается емкость С, равная 100 пФ при измерениях на низких частотах и 200 пФ при измерениях на высоких частотах