разное часть 13

Сначала измеряется частота последовательного резонанса кварцевого резонатора /ь затем подключается последовательно с испытуемым кварцевым резонатором емкость С и после вторичной настройки на последовательный резонанс измеряется частота /г- Эквивалентная индуктивность iLh- и емкость Ск подсчитываются по следующим формулам: 12,66Л0з c„ = 2(Co + C)AL, " /А/(Со + С) 0 f f где / - частота испытуемого кварцевого резонатора, МГц; Д/=, -h-fb Гц; Со - статическая емкость кварцевого резонатора (измеряется прибором для измерения емкостей); пФ; С - последовательно подключаемая емкость, пФ. Если значение динамической эквивалентной емкости Ск извест-, но, индуктивность можно подсчитать по формуле 1к=1/(ЧСк), где ©i = 2n/i. Если известны Lk и Як, можно вычислить добротность кварцевого резонатора по формуле „ % 1 Rk %Скк Другой метод измерения эквивалентных динамических параметров кварцевых резонаторов--метод затухания свободных колебаний - основан на свойстве колебательных цепей, согласно которому время затухания амплитуды свободных колебаний пропорционально добротности цепи и обратно пропорционально частоте. Метод дает высокую точность измерений, может быть использован в широком диапазоне частот, высоко чувствителен и весьма прост. Все эти преимущества метода затухания свободных колебаний обеспечили ему широкое применение при измерениях параметров кварцевых резонаторов. Ряд приборов для измерения эквивалентных параметров резонаторов основан на методе затухания свободных колебаний. Схема прибора - измерителя эквивалентных динамических парамет- ров кварцевых резонаторов Lk, Ск, и Q, использующего этот* метод, представлена на рис. 7.2. Прибор изготовляется на диапазон рабочих частот 10-30 000 кГц±5%. Диапазон измеряемых добротностей начинается от 5-10 и практически не ограничен до максимально необходимых значений. Погрешность измерения Q не Т Т Рис. 7.2: Структурная схема измерителя эквивалентных параметров кварцевых резонаторов превышает ±3%