разное часть 163

Исходное состояние десятичного счетчика прибора перед началом измерения соответствует числу 993020. Контроль работоспособности прибора производится в режиме самоконтроля (по >-(3- Формирователь 1 >-Q~ Формирователь 2 Делитель частоты Индикатор Блок управления режимом измерения Преобразователь временных интервалов tjj = NT() Генератор f„=10 МГп , То Триггер 1 1 t, t2 Селектор ihjuin N Рис. 9.18. Функциональная схема ИВИ по счетно-импульсному методу прямого счета I---- Bxodi Делитель 1 >-в- (1,г,5Лго, 50,100) 1 г- Устройство формиро- вания Вход 2 >-в- Преобразователь нониусный Делитель2 (1Л5,10,Щ 50,100) Канал дополнения Грубый и точный каналы Блок • питания -Блок автоматика I Декада 10 МГи. Декада 7 МГц Ключи высоковольтные 4/50 Ключи высоковольтные Устройство автопуска I I f I Яб Лч Лз Индикатор Рис. 9.19. Функциональная схема прибора И2-24 Длительность Полярность Уровень + Период -уК - Vacmoma Интервал -ИУ-Контроль Род работы Индикатор Л8\Л7 Лв Лв Лч Лз -Лг >- Пробник 1 Пробник 2 Формирователь Кварцевый генератор f=10MVu, Внутренний Кварц Внешний Ключи высоковольтные Преобразователь временных интервалов Декада 10 МГц 1 ? ? t t * 1 Ключи высоковольтные Ключи высоковольтные Декада ШГц Декада ШГц Устройство автопуска Блок питания Внешний 1000 Внутрен-{ о пай о Ручной о Рис. 9.20. Функциональная схема ИВИ И2-25 всем основным параметрам и режимам измерения) и позволяет исключить профилактические мероприятия и увеличить периодичность поверок. Предусмотрен также вывод информации о результатах измерения на КОП и внешнее регистрирующее устройство в коде 8-4-2-1. Высокая разрешающая способность и возможность измерения однократных временных интервалов позволяют использовать прибор в ядерной физике, в экспериментах для определения времени пробега и жизни частиц, для измерения скорости, ускорения и других параметров физических процессов, если они с помощью датчиков преобразуются в электрические сигналы и интервалы времени; кроме того, он может быть использован для измерения времени запаздывания и задержки при контроле качества и испытаниях интегральных микросхем и полупроводниковых приборов